EMI 調(diào)試實踐

愈加嚴格的EMI測試規(guī)范成為工程師在電子產(chǎn)品設計中不可回避的問題：

· 高成本的第三方EMI測試

· 很難進行EMI 整改的效果確認

· 無法準確定位EMI 的信號來源

 

泰克針對以上的這些難題，整理了EMI 的預一致性及整改方案，為工程師提供參考，方案中包含:

· EMI測試中的常見問題

· EMI預一致性測試方法

· 如何利用混合域示波器進行干擾的查找

如何快速準確的定位性能驗證中模擬信號的異常

在產(chǎn)品性能驗證中，異常診斷是工程師面臨的最大挑戰(zhàn)，如何能夠快速準確的定位異常問題成為性能驗證的關(guān)鍵。下載應用文章，您將了解到如何迅速驗證和調(diào)試數(shù)字信號和模擬信號的細節(jié):

 

模擬信號：

· 如何能夠快速發(fā)現(xiàn)異常模擬信號

· 如何快速定位及分析異常信號

 

數(shù)字信號：

· 如何設置數(shù)字門限

· 如何定時采集和狀態(tài)采集

使用混合信號示波器或混合域示波器調(diào)試數(shù)字電路的技巧

隨著電子產(chǎn)品速度越來越快、越來越復雜，其設計、檢驗和調(diào)試的難度也越來越大。設計人員必須全面檢驗設計，才能保證產(chǎn)品可靠運行。在發(fā)生問題時，設計人員必需迅速了解根本原因，以便解決問題。通過同時分析信號的模擬表示方式和數(shù)字表示方式，許多數(shù)字問題的根本原因都可以迎刃而解， 因此， 混合信號示波器(MSO)為檢驗和調(diào)試數(shù)字電路提供了理想的解決方案。

 

下載應用文章，您將獲得的內(nèi)容：

怎樣使用 MSO 和 MDO 系列示波器的基本邏輯分析儀功能迅速驗證和調(diào)試數(shù)字電路。

使用泰克混合信號示波器調(diào)試混合信號嵌入式設計

嵌入式設計中會遇到各種復雜的問題，但混合信號調(diào)試這朵“奇葩”，讓許多使用傳統(tǒng)測量方法的工程師畏懼。

 

微處理器、FPGA、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 和數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC) 等集成電路給當前嵌入式設計帶來了獨特的測量挑戰(zhàn)。工程師可能需要解碼兩個IC 之間的SPI 總線，同時在同一塊系統(tǒng)電路板上觀察ADC 的輸入和輸出。

 

下載應用文章會為大家解答：

· 嵌入式設計中如何同時調(diào)試多個串行協(xié)議

· 根據(jù)您的測試需求如何選擇合適的測試工具