云時(shí)代，多媒體設(shè)備需要更大的內(nèi)存、更高速的接口、更高分辨率的顯示......這些新一代數(shù)字接口標(biāo)準(zhǔn)會(huì)推動(dòng)如今的一致性和診斷工具的限制，產(chǎn)生高速 Tx 和 Rx 設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，怎樣戰(zhàn)勝這些挑戰(zhàn)，輕松完成測(cè)試工作，泰克針對(duì)此設(shè)計(jì)了系列專題，全面介紹HDMI2.0, MIPI, USB3.1, 及一期神秘主題，讀者可根據(jù)與前三期主題的相關(guān)性以及后面的提示猜第四期主題。本期為《USB3.1接口測(cè)試》。
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內(nèi)存技術(shù)繼續(xù)發(fā)展以滿足應(yīng)用要求。新一代技術(shù)如 DDR4 和 LPDDR3 采用更高速率來(lái)提升性能、更低的 I/O 電壓來(lái)降低功耗，并支持多種外部形狀以滿足不同應(yīng)用需求。這些因素帶來(lái)調(diào)試和驗(yàn)證挑戰(zhàn)，因?yàn)樾枰M(jìn)行大量更加復(fù)雜的新測(cè)試來(lái)驗(yàn)證和調(diào)試設(shè)備以更緊湊的裕量、更快的邊沿速率和復(fù)雜的總線協(xié)議工作。泰克提供最完整的全套工具進(jìn)行內(nèi)存驗(yàn)證和調(diào)試。
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使用泰克示波器可視觸發(fā)功能調(diào)試內(nèi)存接口
DDR存儲(chǔ)器電接口檢驗(yàn)
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DDR內(nèi)存接口電氣驗(yàn)證和調(diào)試
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USB從1.0, 1.1, 2.0發(fā)展到目前廣泛使用的USB3.0，USB協(xié)會(huì)從沒有停止它持續(xù)前進(jìn)的步伐，本次專題討論內(nèi)容為USB下一代技術(shù)即USB3.1，主要包括：介紹USB協(xié)會(huì)帶給我們的最新消息；USB3.1的兩個(gè)創(chuàng)新技術(shù)——type C的連接器和PD，也就是Power Delivery；將著重介紹USB3.1物理層測(cè)試，包括3.1比起3.0在技術(shù)上的差異化及提升，USB3.1遇到的測(cè)試挑戰(zhàn)，及USB3.1的發(fā)送端測(cè)試及接收端測(cè)試。
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下一代USB技術(shù)測(cè)試（有聲課件）
USB3.1 接收機(jī) 一致性測(cè)試
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簡(jiǎn)化 USB3.1 設(shè)計(jì)的驗(yàn)證和調(diào)試
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當(dāng)今智能機(jī)時(shí)代，在智能機(jī)內(nèi)部MIPI接口被廣泛應(yīng)用，其速率不斷的演化加快，從D-phy的1Gbps開始向更高的M-phy 5.8Gbps過渡來(lái)支持更高清的顯示，采用MIPI物理標(biāo)準(zhǔn)的DigRF也可以更好的支持日漸來(lái)臨的4G LTE射頻芯片和基帶之間的通信。這些更快的速率和更新的標(biāo)準(zhǔn)，都對(duì)我們的總線一致性有了更嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)對(duì)我們的測(cè)試儀器和分析軟件提出來(lái)更高的要求，在這一過程中，泰克公司不斷地推陳出新，同時(shí)加強(qiáng)與各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)的合作，在當(dāng)下和未來(lái)以自身的方案來(lái)滿足不同用戶的需求。
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MIPI?物理層測(cè)試（課件）
了解和執(zhí)行MIPI M-PHY物理層和協(xié)議層測(cè)試
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了解和執(zhí)行 MIPI? D-PHY 物理層、CSI 和 DSI 協(xié)議層測(cè)試
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HDMI接口標(biāo)準(zhǔn)適用于高清電視，機(jī)頂盒，智能手機(jī)，相機(jī)，汽車，音響等設(shè)備，是數(shù)字高清顯示重要的接口。最新的HDMI2.0規(guī)范，相對(duì)HDMI1.X的規(guī)范速率和帶寬都提升了近一倍, 給HDMI產(chǎn)品相關(guān)的設(shè)計(jì)認(rèn)證工程師帶來(lái)了新挑戰(zhàn)。泰克作為HDMI接口規(guī)范的重要貢獻(xiàn)者，從規(guī)范誕生的那一刻就為該規(guī)范提供了完整的測(cè)試認(rèn)證方案來(lái)保證HDMI產(chǎn)品的質(zhì)量和相互之間的兼容性。
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顯示產(chǎn)品的測(cè)試與挑戰(zhàn)（課件）
HDMI測(cè)試解決方案速查資料
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HDMI一致性測(cè)試軟件產(chǎn)品技術(shù)資料
串行數(shù)據(jù)一致性測(cè)試和驗(yàn)證測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)
- 《HDMI2.0測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)方案》
- 上線日期：2015年10月12日
- 《MIPI物理層測(cè)試方案》
- 上線日期：2015年11月2日
- 《USB3.1接口測(cè)試》
- 上線日期：2015年11月20日
- 神秘主題揭曉：《DDR Memory》
- 上線日期：2015年12月11日
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關(guān)于泰克
65年多來(lái)，工程師們一直依賴泰克的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案解決設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，改善生產(chǎn)效率，明顯縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。泰克是面向以電子設(shè)計(jì)、制造和高級(jí)技術(shù)開發(fā)為重點(diǎn)的工程師提供測(cè)試設(shè)備的領(lǐng)導(dǎo)廠商。泰克公司總部位于美國(guó)俄勒岡州畢佛頓，為世界各地的客戶服務(wù)，提供屢獲大獎(jiǎng)的服務(wù)和支持。如需最新信息，請(qǐng)關(guān)注cn.tektronix.com