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用于半導體可靠性的短脈沖強制性測試
開發(fā)IC讓它能工作是一回事；而讓它耐用就是另一回事了。隨著新技術出現(xiàn)新的可靠性問題，后者變得越來越難。在封裝之前，在晶圓上進行脈沖測試會有幫助。
下載說明
- 發(fā)布公司：keithley
- 文件大小：380.56 Kb
- 更新時間：2009-12-29 15:16:17
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