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微分電導(dǎo)測(cè)量方法以更低成本揭示納米器件

微分電導(dǎo)測(cè)量方法以更低成本揭示納米器件 對(duì)更小尺寸、更低功耗電子器件的需求推動(dòng)了納米技術(shù)的發(fā)展。研究人員努力理解量子能級(jí)結(jié)構(gòu)和納米級(jí)器件的行為以及這些如何影響電氣特性。這使觀察或預(yù)測(cè)何時(shí)發(fā)生隧道效應(yīng)，計(jì)算器件的能態(tài)密度，理解低溫環(huán)境下的導(dǎo)電現(xiàn)象以及產(chǎn)生人造原子（其中能量量化可以基于材料的結(jié)構(gòu)和形狀進(jìn)行修改）成為可能。

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  • 更新時(shí)間：2009-12-29 17:38:36
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