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新儀器性能超出鎖相放大器（英文）

新儀器性能超出鎖相放大器（英文） Researchers today must measure material and device characteristics that involve very small currents and voltages. Examples include the measurement of resistance and I-V characteristics of nanowires, nanotubes, semiconductors, metals, superconductors, and

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  • 更新時間：2010-01-18 10:04:35
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